Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог статей- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:IPRbooks книги (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=атомно-силовая микроскопия<.>
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.


    Яминский, И. (Д-р физико-мат. наук).
    Кристаллы из белка / И. Яминский // Наука и жизнь. - 2004. - N 1. - С. . 58-60
ББК 28.072
Рубрики: Биология--Общая биохимия
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- белки -- кристаллы -- лизоцим

Найти похожие

2.


    Лозовская, Е. (Кандидат физико-мат. наук).
    Атомно-силовая микроскопия / Е. Лозовская // Наука и жизнь. - 2004. - N 1. - С. . 60
ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- методы исследования -- микроскопы

Найти похожие

3.


    Маратканова, А. Н.
    Сравнительный анализ структурного состояния стали методами атомно-силовой и просвечивающей электронной микроскопии / А. Н. Маратканова, С. Ф. Ломаева, И. Л. Яковлева // Физика металлов и металловедение. - 2007. - Т. 104, N 2. - С. . 184-188. - Библиогр.: с. 188 (9 назв. )
ББК 34.2
Рубрики: Машиностроение--Металловедение
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- морфология (машиностроение) -- стали -- структурные превращения


Доп.точки доступа:
Ломаева, С. Ф.; Яковлева, И. Л.
Найти похожие

4.


   
    Электричество под микроскопом [Текст] / А. Л. Толстихина [и др. ] // Природа. - 2009. - N 4. - С. 18-27 : 8 рис. - Библиогр.: с. 27 (13 назв. )
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- сегнетоэлектрики -- триглицинсульфат -- электростатические изображения -- кристаллы
Аннотация: Об использовании атомно-силового микроскопа для исследований физических процессов на поверхности кристаллов и тонких пленок.


Доп.точки доступа:
Толстихина, Алла Леонидовна (канд. физ. -мат. наук); Сорокина, Кира Львовна (канд. физ. -мат. наук); Белугина, Наталья Васильевна (канд. физ. -мат. наук); Гайнутдинов, Радмир Вильевич (канд. физ. -мат. наук)
Найти похожие

5.


   
    Особенности металлических цементов, образующихся при взаимодействии механохимически синтезированных медных сплавов с жидким галлием и его эвтектиками. Изучение взаимодействия композитов Cu/Bi с жидким галлием [Текст] / Т. Ф. Григорьева [и др. ] // Физика металлов и металловедение. - 2011. - Т. 111, N 3. - С. 266-271. - Библиогр.: с. 271 (9 назв. ) . - ISSN 0015-3230
ББК 34.2
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение в целом

Кл.слова (ненормированные):
механокомпозиты -- расплавы -- галлиевые расплавы -- цементы -- металлические цементы -- атомно-силовая микроскопия -- кристаллизация -- жидкий галлий -- сплавы -- медные сплавы -- интерметаллиды
Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии и сканирующей электронной микроскопии исследовалось строение металлических цементов, образующихся при взаимодействии механокомпозитов Cu/Bi с жидким галлием при комнатной температуре. Установлено, что базовый для этого металлического цемента интерметаллид CuGa2 формируется в виде тетрагональных кристаллов размером 1-4 мкм, причем для них характерен слоисто-спиральный рост. Вторая фаза - висмут - адсорбируется на ступенях роста в виде дисперсных образований 70-250 нм, отмечены также локальные скопления висмута микронных размеров. Показано, что в металлическом цементе, сформировавшемся при комнатной температуре, остаются области непрореагировавшего композита Cu/Bi.


Доп.точки доступа:
Григорьева, Т. Ф.; Ковалева, С. А.; Баринова, А. П.; Sepelak, V.; Витязь, П. А.; Ляхов, Н. З.
Найти похожие

6.


   
    Что видит атомно-силовой микроскоп? [Текст] / А. Л. Толстихина [и др.] // Природа. - 2014. - № 1. - С. 62-72 : 11 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 72 (10 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом--Россия, 21 в.

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- нанотехнологии -- сегнетоэлектрики
Аннотация: О достижениях атомно-силовой микроскопии в области нанотехнологий.


Доп.точки доступа:
Толстихина, Алла Леонидовна (кандидат физико-математических наук); Сорокина, Кира Львовна (кандидат физико-математических наук); Белугина, Наталья Васильевна (кандидат физико-математических наук); Гайнутдинов, Радмир Вильевич (кандидат физико-математических наук); Российская Академия наук \институт кристаллографии им. а. в. шубникова\
Найти похожие

7.


   
    Компьютерный анализ АСМ-изображений системы нанопор на поверхности структуры SiO[2]/Si, полученных методом имплантации ионами цинка [Текст] / В. Н. Соколов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 9. - С. 1098-1102. - Библиогр.: c. 1102 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 31.46
Рубрики: Энергетика
   Ядерные реакторы

Кл.слова (ненормированные):
АСМ-изображения -- атомно-силовая микроскопия -- ионное легирование -- компьютерный анализ -- легирование цинком -- нанопоры -- термический отжиг
Аннотация: Проведено компьютерное исследование морфологических характеристик АСМ-изображений самоорганизованной системы поверхностных нанопор в структуре SiO[2]/Si (100). Эта система нанопор была получена методом ионного легирования Zn с последующим термическим отжигом. Исследование АСМ-изображений системы нанопор проводилось с помощью программного обеспечения “STIMAN 3D”. Дана корректная количественная оценка морфологии данной системы нанопор по ряду параметров, таких как эквивалентный диаметр, площадь, суммарная площадь и коэффициент формы. Корректная количественная оценка морфологии самоорганизованной системы поверхностных нанопор в структуре SiO[2]/Si (100) позволит уточнить возможные практические применения полученной системы нанопор в опто- и наноэлектронике.


Доп.точки доступа:
Соколов, В. Н.; Разгулина, О. В.; Привезенцев, В. В.; Петров, Д. В.
Найти похожие

8.


   
    Исследование структуры полисилоксан-карбонат-уретанов [Текст] / И. О. Волков [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 9. - С. 1118-1120 : рис. - Библиогр.: c. 1120 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 30.3
Рубрики: Техника
   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
4, 4`-дифенилметандиизоцианат -- атомно-силовая микроскопия -- диэтилдикаприлат олова -- олигомерный кремнийорганический диол -- полисилоксан-карбонат-уретаны -- просвечивающая электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- тетрагидрофуран -- триэтиламин
Аннотация: Методами АСМ, СЭМ и ПЭМ изучена структура аморфных полимеров - полисилоксан-карбонат-уретанов. Показано, что структура полимера зависит от природы растворителя, используемого для формирования пленки.


Доп.точки доступа:
Волков, И. О.; Филимонова, Л. В.; Макаров, Л. И.; Анисимов, А. А.; Синицына, О. В.; Бурмистров, А. А.; Филатова, А. Г.; Завин, Б. Г.; Яминский, И. В.; Белавцева, Е. М.
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)